中華人民共和國國家標準(中國大陸GB標準)英文版 |
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GB標準是中華人民共和國國家標準，也叫GB國標，是中國大陸強制執行的國家標準，所有中國大陸境內銷售的商品及提供服務都必須符合GB國家標準的要求，包括進口商品及服務； 本網站提供GB國家標準的查詢檢索，英文版翻譯，GB標準產品檢測檢驗及合規性分析服務； |
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GB/T 41765-2022 碳化硅单晶位错密度的测试方法（中英文版） Test method for dislocation density of silicon carbide single crystal |
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GB/T 8760-2020 砷化镓单晶位错密度的测试方法（中英文版） Test method for dislocation density of monocrystal gallium arsenide |
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GB/T 5252-2020 锗单晶位错密度的测试方法（中英文版） Test method for dislocation density of monocrystal germanium |
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GB/T 34481-2017 低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法（中英文版） Test method for measuring etch pit density (EPD) in low dislocation density monocrystalline germanium slices |
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GB/T 33763-2017 蓝宝石单晶位错密度测量方法（中英文版） Test method for dislocation density of sapphire single crystal |
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SJ/T 11490-2015 低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法（中英文版） Test method for measuring etch pit density (EPD) in low dislocation density gallium arsenide wafers |
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SJ/T 11489-2015 低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法（中英文版） Test method for measuring etch pit density (EPD) in low dislocation density indium phosphide wafers |
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